序一

集成电路作为现代高新技术产业的基石、支柱和原动力，在近半个世纪的历史进程中，持续推动着计算机、通信和消费电子产品的创新发展，这在很大程度上改变了这个世界的面貌。在集成电路产业的发展链条中，集成电路设计是源头，集成电路制造是基础，集成电路测试则是保障。

遵循摩尔定律，集成电路特征工艺尺寸的按比例缩小已经持续了近50年，由此带来的不只是制造工艺的精细化和设计方法的高效化，也使集成电路测试技术面临巨大的挑战。其一，芯片内部集成规模的增加超过了芯片引脚数量的增加，使得集成电路的可控制性和可观测性难以保证；其二，每个芯片的引脚数量及空间密度的增加，对测试设备的精密程度和电磁兼容性提出了更高的要求；其三，数字芯片的运算速度和模拟芯片的工作频率持续攀升，而测试设备的速度和频率必须高于被测芯片；其四，集成电路测试不仅要满足功能和性能指标的检查要求，还要满足对可靠性、可制造性和健壮性等的检测要求。为了应对上述挑战，集成电路测试技术也必须持续创新发展。

目前国内原创的集成电路测试技术方面的专著不多，这本书在一定程度上填补了这方面的空白。该书将基本原理和实践经验、测试方法和测试设备紧密地结合起来，涵盖数字芯片、混合信号芯片、模拟芯片以及电源管理芯片等主要芯片类型的集成电路测试。我相信，此书的出版对于我国自主可控的集成电路产业，特别是集成电路测试行业的发展以及培养集成电路专门人才会起到积极而重要的作用。

庄奕琪
西安电子科技大学教授、博士生导师
国家集成电路人才培养基地主任